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開放式線性光學尺 

開放式線性光學尺

JENA開放式線性光學尺

代碼 LINEAR_ENCODERS





JENA光學尺

原廠連結 : www.numerikjena.de

                           

 






 
LIA 系列線性光學尺
 
 

特 性

  1. 安裝空間小 
  2. 具有動態補償功能，可減少誤差產生
  3. 細分誤差小
  4. 雙讀頭視覺設計，可大幅提高抗污染能力
  5. 頭與尺帶間距可達1.3±0.2mm
  6. 可克服溫度影響(DOUBLEFLEX)
  7. 鋼帶使用自貼膠帶，安裝簡單


 
 

規 格

解析度 0.05μm/ 0.1μm/0.2μm/0.5μm/1.0μm/ 5.0μm
精度/米 雙層尺帶 ±1μm /±2μm / ±3μm / ±5μm
單層尺帶 ±5μm/其它可訂製
最大速度 10m/s (for sinusoidal) 1.6m/s (R:0.1μm)
讀頭尺寸 34mm x 13.2mm x 12.4mm
GP 20μm/100μm
尺帶材料熱膨脹系數 不銹鋼，10.5x10-6grd-1
輸出信號 1Vpp/RS422
參考原點 標準: 固定距離，每50mm一個/其他可訂製

主 要 市 場

  1. 生物醫療設備 
  2. 半導體設備
  3. 半導體生產與檢測設備
  4. 線性馬達與其他/線性機構
  5. 測量機
 

*LIA光學尺 3D圖檔 請至 資料下載

 

 

LIK 系列線性光學尺
 
   

特 性

 
  1. 讀頭尺寸小:
    LIK21 30x1x6
    LIK22 40x11x7
    LIK23 32x11x9.5
  2. 解析度
    0.05μm/0.1μm/0.2μm/0.5μm/1.0μm/5.0μm
  3. LIK21 LIK22 LIK23: 雙讀頭視窗
    LIK44: 單讀頭視窗
  4. 細分誤差小
  5. 工作速度最高到10m/s

 

 

KIT L 系列線性光學尺
 
   

特 性

  1. 尺寸最小
  2. 讀頭封裝可製訂
  3. 解析度:
    0.05μm/0.1μm/0.2μm/0.5μm/1.0μm/5.0μm
  4. KIT L2: 雙讀頭視窗
    KIT L4: 單讀頭視窗
  5. 細分誤差小
  6. 工作速度最高到10m/s
  7. 可選擇訂製的接頭

 

 

LIE 5 系列線性光學尺
 
   

特 性

  1. 標準型 LIE 5
  2. 雙偵測單元
  3. 內建50倍信號分割功能

 

 

 

光學尺帶
 
   
  1. 基本設計
    材料 : 不銹鋼帶，熱膨係數(10.5╳10-6℃-1)
    光柵週期 20μm ，背面自黏性膠帶將尺帶固定於機件上
 
  1. 依應用需求，提供兩種尺帶：
    SINGLEFLEX 尺帶
    尺帶受機台影響，熱脹冷縮，適用於：
    (1)機台與尺帶接觸面之熱膨脹係數接近10.5╳10-6℃-1
    (2)一般精度需求

          

        DOUBLEFLEX 尺帶
        尺帶不因機台冷縮熱脹而遭拉伸或擠壓，熱膨脹係數固定為10.5 ╳ 10 -6 ℃-1，與機台材質無關，適用於：
        (1)機台與尺帶接觸面之熱膨脹係數遠異於 10.5 ╳ 10-6 ℃-1
        (2)高精度需求

          

        DOUBLEFLEX 的主要特色
        DOUBLEFLEX 有兩條鋼帶，其中一條為量測鋼帶具有光柵，另一條則為承載鋼帶 兩條鋼帶間有一連結層，用來
        阻絕張力的轉移，隔絕機台對量測鋼帶的影響：
        (1) DOUBLEFLEX 尺帶不會因安裝而造成彎曲變形，確保量測精度
        (2)DOUBLEFLEX 尺帶亦不會因溫度造成彎曲變形，溫度變化極大時，仍可自由縮脹，不受機台影響 

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開放式線性光學尺
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