開放式線性光學尺
JENA開放式線性光學尺
代碼 LINEAR_ENCODERS
LIA 系列線性光學尺
特 性
- 安裝空間小
- 具有動態補償功能，可減少誤差產生
- 細分誤差小
- 雙讀頭視覺設計，可大幅提高抗污染能力
- 頭與尺帶間距可達1.3±0.2mm
- 可克服溫度影響(DOUBLEFLEX)
- 鋼帶使用自貼膠帶，安裝簡單
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規 格
| 解析度 | 0.05μm/ 0.1μm/0.2μm/0.5μm/1.0μm/ 5.0μm | ||
| 精度/米 | 雙層尺帶 | ±1μm /±2μm / ±3μm / ±5μm | |
| 單層尺帶 | ±5μm/其它可訂製 | ||
| 最大速度 | 10m/s (for sinusoidal) 1.6m/s (R:0.1μm) | ||
| 讀頭尺寸 | 34mm x 13.2mm x 12.4mm | ||
| GP | 20μm/100μm | ||
| 尺帶材料熱膨脹系數 | 不銹鋼，10.5x10-6grd-1 | ||
| 輸出信號 | 1Vpp/RS422 | ||
| 參考原點 | 標準: 固定距離，每50mm一個/其他可訂製 | ||
主 要 市 場
- 生物醫療設備
- 半導體設備
- 半導體生產與檢測設備
- 線性馬達與其他/線性機構
- 測量機
*LIA光學尺 3D圖檔 請至 資料下載
LIK 系列線性光學尺
特 性
KIT L 系列線性光學尺
特 性
- 尺寸最小
- 讀頭封裝可製訂
- 解析度:
0.05μm/0.1μm/0.2μm/0.5μm/1.0μm/5.0μm - KIT L2: 雙讀頭視窗
KIT L4: 單讀頭視窗 - 細分誤差小
- 工作速度最高到10m/s
- 可選擇訂製的接頭
LIE 5 系列線性光學尺
特 性
- 標準型 LIE 5
- 雙偵測單元
- 內建50倍信號分割功能
光學尺帶
- 基本設計
材料 : 不銹鋼帶，熱膨係數(10.5╳10-6℃-1)
光柵週期 20μm ，背面自黏性膠帶將尺帶固定於機件上
- 依應用需求，提供兩種尺帶：
SINGLEFLEX 尺帶
尺帶受機台影響，熱脹冷縮，適用於：
(1)機台與尺帶接觸面之熱膨脹係數接近10.5╳10-6℃-1
(2)一般精度需求
DOUBLEFLEX 尺帶
尺帶不因機台冷縮熱脹而遭拉伸或擠壓，熱膨脹係數固定為10.5 ╳ 10 -6 ℃-1，與機台材質無關，適用於：
(1)機台與尺帶接觸面之熱膨脹係數遠異於 10.5 ╳ 10-6 ℃-1
(2)高精度需求
DOUBLEFLEX 的主要特色
DOUBLEFLEX 有兩條鋼帶，其中一條為量測鋼帶具有光柵，另一條則為承載鋼帶 兩條鋼帶間有一連結層，用來
阻絕張力的轉移，隔絕機台對量測鋼帶的影響：
(1) DOUBLEFLEX 尺帶不會因安裝而造成彎曲變形，確保量測精度
(2)DOUBLEFLEX 尺帶亦不會因溫度造成彎曲變形，溫度變化極大時，仍可自由縮脹，不受機台影響
DOUBLEFLEX 有兩條鋼帶，其中一條為量測鋼帶具有光柵，另一條則為承載鋼帶 兩條鋼帶間有一連結層，用來
阻絕張力的轉移，隔絕機台對量測鋼帶的影響：
(1) DOUBLEFLEX 尺帶不會因安裝而造成彎曲變形，確保量測精度
(2)DOUBLEFLEX 尺帶亦不會因溫度造成彎曲變形，溫度變化極大時，仍可自由縮脹，不受機台影響